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簡要描述：球化率的測量超聲波測厚儀ZX-5DL美國DAKOTA ULTRASONICS公司ZX-5DL超聲波測厚儀。具有使用簡單，功能強(qiáng)大，體積小巧，可靠性高等特點(diǎn)。擠壓鋁制外殼，堅(jiān)固耐用。
產(chǎn)品型號：ZX-5DL
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2025-07-03
訪 問 量：3049
產(chǎn)品分類
詳細(xì)介紹
球化率的測量超聲波測厚儀ZX-5DL
美國DAKOTA ULTRASONICS公司ZX-5DL超聲波測厚儀。
具有使用簡單，功能強(qiáng)大，體積小巧，可靠性高等特點(diǎn)。
擠壓鋁制外殼，堅(jiān)固耐用。
球化率的測量超聲波測厚儀ZX-5DL特點(diǎn)：
150V方波脈沖發(fā)生器
可調(diào)增益( 40~52dB )，以3dB為步長(可選超低、低、中、高、再高五檔)
可選擇手動或自動探頭校零
低溫定制液晶顯示器(-30℃)
IP65防護(hù)等級
聲速測量模式，可做為超聲波聲速儀(球化率儀)
差值模式
上下限報(bào)警模式
USB Type-C數(shù)據(jù)接口超聲波測厚儀。
32M閃存內(nèi)部數(shù)據(jù)存儲器
技術(shù)參數(shù):
測量:
測量范圍：0.63~914.4mm(鋼)，取決于材料和探頭類型
單位：英制和公制
分辨率：0.01mm
聲速范圍：305~18542m/s
脈沖重復(fù)頻率：200Hz
顯示刷新頻率：10Hz
增益：40~52dB，步進(jìn)3dB
顯示:
多功能7段4位半數(shù)字液晶顯示器，數(shù)字高度為12.7mm
兩個(gè)3.2mm14段顯示區(qū)和一 個(gè)7段顯示區(qū)，用于顯示信息和數(shù)值
附加的圖標(biāo)表示功能和模式
背光可選擇開/關(guān)/自動，可選 擇亮度(低、中、高)選項(xiàng) 條形讀數(shù)穩(wěn)定性/重復(fù)性指示
特點(diǎn):
探頭校零：手動和自動校零
探頭直徑：可選擇探頭直徑以提高線性
高速掃描模式： 顯示掃描期間的小讀數(shù)，掃描頻率為100Hz
差值模式：顯示測量值和輸入的標(biāo)稱值的差值
報(bào)警模式：上下限聲光報(bào)警
聲速測量模式：用于球化率的測量
探頭:
頻率范圍：1~10MHz
雙晶探頭
LEMO接口，1.2米探頭線
可定制用于特殊應(yīng)用的探頭
存儲:
可存儲40組，每組250個(gè)數(shù)據(jù)，共10000個(gè)數(shù)據(jù)
其他:
鍵盤： 防水防油密封按鍵膜，九個(gè)觸感反饋按鍵
電源：標(biāo)配為兩節(jié)5號堿性電池 ，可選鎳鎘電池或鋰電池。電池低電量指示。無操作五分鐘后自動關(guān)機(jī)。
Type-C供電
重量：312g(含電池)
尺寸：131.3x63.5x31.5mm
操作溫度：-30~75℃
外殼：擠壓鋁制外殼，底蓋為鎳板鍍鋁，環(huán)保封裝
包裝：ABS工程塑料箱
常用探頭:
型號 | 頻率 | 探頭晶片直徑 | 探頭接觸直徑 | 測量范圍 | 說明 |
PT-102-2000 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0～152mm | 標(biāo)準(zhǔn)探頭 |
PT-101-2000 | 5.0MHz | 4.76mm | 6.35mm | 1.0～50mm | 小管徑探頭 |
PT-104-0000 | 1.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 3.8～50.8mm(鑄鐵中) | 鑄鐵探頭 |
PT-102-1000 | 2.25MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.5～100mm | 低頻探頭 |
PT-102-3300 | 7.5MHz | 6.35mm | 9.53mm | 0.63～152mm | 超薄探頭 |
PT-104-2000 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27～508mm | 超厚探頭 |
PT-042-2000 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0～152mm | 標(biāo)準(zhǔn)高溫探頭，高溫340℃ |
PT-044-2000 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27～508mm | 厚高溫探頭，高溫340℃ |
PT-212-2001 | 5.0MHz | 6.35mm | 9.53mm | 1.0～152mm | 超高溫探頭，高溫480℃ |
PT-214-2001 | 5.0MHz | 12.7mm | 15.88mm | 1.27～508mm | 超厚超高溫探頭，高溫480℃ |
注：
測試高溫表面時(shí)需用高溫耦合劑
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